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抗干擾開發系統

]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 抗干擾開發系統
產品型號: E1
產品展商: 艾仕歐
產品文檔: 無相關文檔


簡單介紹
大部分電子產品需要通過電快速瞬變脈沖群(Burst)和靜電放電(ESD)等項目的標準測試。測試時,把干擾脈沖從設備外部耦合到內部,同時監視設備的工作狀態。如果設備沒有通過這些標準的測試,測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。? E1抗干擾開發系統能采用不同的方式,向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場,在設備內部仿真干擾的過程,以定位電路板上電磁薄弱點,理解耦合機理,完成優化后的設計修改。 E1抗干擾開發系統不能按照某個標準進行兼容性測試。所以建議先對被測物進行標準的抗干擾測試(必要的話,在EMC實驗室進行測試),然后對可能的故障原因進行分析,再利用E1抗干擾開發系統來找出更多的故障原因,并利用E1在產品開發場地進行設計修改的評估。

抗干擾開發系統

的詳細介紹

       E1抗干擾開發系統包含SGZ21突發脈沖發生器,SGZ21能產生連續的類似于Burst或者ESD的干擾脈沖,脈沖的上升沿時間為2ns,下降沿時間為約10ns。這些脈沖包含的能量比2/50ns的Burst脈沖【根據EN 61000-4-4】或ESD【根據EN 61000-4-2】脈沖小,因此能在不損壞被測設備的情況下,把干擾直接耦合到電子模塊內。由于SGZ21產生的脈沖,上升沿時間短,峰值電壓也比較低,所以這些干擾對被測設備的影響,是和EN 61000-4-4的Burst脈沖的影響類似的。

      E1抗干擾開發系統中SGZ21脈沖的幅度是連續變化的。峰值在0-1500V之間,是按統計平均分布的。利用這種方法,配合傳感器能對模塊進行特別快速的抗干擾性能評估(脈沖率測試法-見2.5節),為此,發生器內置了一個帶光纖(2.2mm塑料光纖)輸入的計數器。 
同時SGZ21采用電氣隔離(無PE參考)的對稱輸出。干擾脈沖能被容性耦合,極性可變。這樣,就能采用各種耦合方式,例如: 
-把發生器的輸出直接連接到被測物的GND系統上,把干擾電流直接注入到GND系統。 -把干擾電流注入到GND,然后從VCC返回。 
-干擾電流可以注入到變壓器、分配器或者光耦的初級,從次級返回(在工作電壓大于42V時,對SGZ21要有相應的保護) 
連接到發生器的場源,可以很好的定位被測設備的臨界結構。 

       E1抗干擾開發系統利用場源,把burst信號轉換為很小區域的磁場或者電場,可以注入到被測設備內部很小的區域內,或者單根電纜上。從而準確定位被測設備內部電磁敏感點的位置。 

      不同的電路結構,可能會對磁場敏感,也可能會對電場敏感。E1中的場源,有的是產生磁場的,有的是產生電場的,這樣可以確認EUT是對哪種類型的干擾場敏感。場源和SGZ21的連接方法見圖5。除了場源能產生干擾場之外,連接電纜也會把干擾耦合到EUT并影響測量結果。所以,電纜應該盡可能放置得離EUT遠一些。


 

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